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中国Nepcon华南- 深圳 展会预览


作者:    时间:2016/8/13 11:21:06  来源:   

      2016年8月-意大利斯特兰比诺 – 今年华南Nepcon展会Seica的主题是结合了工业4.0概念的Pilot飞针系列和传统的Compact针床和功能测试系列。Compact 和Pilot 4D系列已具有达到工业4.0所需的标准功能,并提供为此标准兼容第三方信息追溯系统的软件工具。

  Pilot4D飞针测试系列提供众多解决方案,旨在优化测试“时间”并保证高质量的测试。所有Pilot4D系列都具备速度快、测试覆盖率高的优异性能,更适合用于在最新一代电子产品的高科技复杂电路板测试。

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  Pilot4DV8测试机具备各种技术,采用各种电子、光学和热扫描测试。其能够在最小SMD元器件诸如 008004上进行测试并且适合中小批量生产、维修和反求工程中的电路板。Pilot V8配备了8个电气测试探针和另外8个资源测试UUT,且所有V8设备采用立式结构,这样一个紧凑而稳定性高的结构使得Pilot V8成为全球独一无二的测试架构。它可以对UUT双面同时运行飞针,与4针系统比起来大大增加了测试量。移动电源测试针作为另一项创新,实现了无需任何其他固定电缆则可直接进行对UUT进行功能测试。Pilot4D V8 配备了飞针扫描系统,是真正的ATE飞针和边界扫描测试集成系统。

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  Compact Line 系列设计符合当今“精益生产”总体要求并专注于符合电路板制造的要求。它成熟的人体工程学设计,强大的技术竞争力使其可为科技前沿技术先进的产品提供极大的生产灵活性、高测试精度、高测试速度以及极大的测试吞吐量。新款机器占用空间小,功耗低。

  Compact TK作为在线和功能测试系统,最大可容配有1356 测试点,其模块化的结构具有延展性和可配置性。其资源可满足所有测试所需求。它不仅可以结合外部仪表还能进行客户化解决方案以满足客户的特殊需求,它的功能测试是汽车电子板和组合产品最理想的解决方案。这是一款最小配置的机型,其主要特点是高水准的人体工程学设计,空间小,便于维修,低功耗和安全性强。正是由于其占用空间小且符合WCM标准,使得其系统可轻而易举地应用于任何生产环境中。


关键词:NEPCON Pilot飞针 热扫描测
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