2015年2月27日 - 推动高能效创新的安森美半导体 (ON Semiconductor，美国纳斯达克上市代号：ONNN) 已成功示范其第二代相位检测自动对焦 (PDAF) 技术以独特的像素微镜技术为特色，令在25勒克斯 (Lux) 光照水平下快速对焦。这种独特的技术已成功实现在具备1.1微米(um)像素的1300万像素(MP)测试芯片，并将用于今年内为移动终端市场客户作介绍的新品中。
传统的智能手机自动对焦 (AF) 算法使用反差检测测量和多帧来调整镜头焦距。这试错法可以花超过1.2秒找到图像焦点。安森美半导体的PDAF技术使用双像素测量目标图像的相位信息。这相位信息用作计算镜头对焦所需的移动方向及距离只须少于0.3秒，视乎对焦致动器的速度。此外，安森美半导体已实现一个独特的像素微镜结构，保持PDAF像素的灵敏度，并确保为PDAF捕获足够的光以在低至25 Lux的微光下工作(类似于一个灯光昏暗的房间)。市场上的竞争技术采用的方法在像素灵敏度和微光自动对焦性能方面有所折中。
安森美半导体移动和消费分部副总裁Shung Chieh说：“安森美半导体的PDAF技术是像素和光学叠层设计创新的成果。这缩减了近1/4的自动对焦时间，为移动设备用户带来绝佳的体验。我们技术上领先的微光能力使智能手机制造商能让他们的客户在所有光照情况下快速自动对焦。”
安森美半导体将于2015年3月2日至5日在西班牙巴塞罗那举行的世界移动通信大会 (Mobile World Congress) 展示其最新的图像传感器技术及产品。欲安排私人参观公司图像传感器的现场演示，请联系您的安森美半导体销售代表。