会议时间:
2026年7月3日 13:00-17:00
会议地点:
合肥高新希尔顿花园酒店 23F花园厅
当前,AI 算力芯片、边缘智能终端与先进电源架构快速迭代,半导体测试正迎来精度升级、场景扩容、成本优化三大核心趋势。芯片集成度持续提升、功耗等级大幅增长,对 PI 电源完整性、PDN 阻抗、器件参数提取、边缘 AI 功耗测评等测试能力提出全新挑战。同时,行业降本增效需求凸显,低成本、高精密、全场景测试方案成为产业刚需。
本次论坛,由是德科技携手新普仪测联合主办、新电子媒体平台协办。会议聚焦电源与 AI 半导体精准测试实战应用,汇聚一线工程师与技术专家,围绕 PI 验证、器件参数提取、边缘 AI 功耗测量、矢量信号发生、PDN 阻抗测试五大核心场景展开深度研讨与实操交流。会议立足行业前沿趋势,分享落地技术方案与实战经验,助力企业攻克测试痛点、提升研发效率、把握产业发展机遇。
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会议议程
时间 | 议程 |
|---|---|
13:00--13:30 | 来宾签到 会议开场 |
13:30--14:20 | 如何充分准确验证高速电路中的电源完整性 |
14:20--14:40 | 如何精确评估低功耗边缘AI的电流和功耗特性? |
14:40--15:10 | 全新高性价比单路和多通道矢量信号产生方案 |
15:10--15:30 | 产品展示 幸运抽奖 |
15:30--16:10 | 如何用便捷和经济的手段提取半导体的参数 |
16:10--17:00 | AI供电系统 PDN 阻抗和环路增益的精确测试 |
*日程仅供参考,具体以现场为准
演讲摘要
如何充分准确验证高速电路中的电源完整性
摘要:在以 AI 为核心的智能产品供电系统中, 所需的供电变条件异常苛刻 --- 低至 0.6-0.8VDC 的电压,高达 100-200A 的电流。 这对电源完整性的精确测量提出严酷要求。 该专题将分享基于EXR和HD3 高精度示波器, 配合先进的探头和应用软件, 对AI电源和供电总线中的电源完整性进行精确的测量和可靠的验证。, 内容包括如何根据电源完整性测试的应用场景需求, 选用合适的示波器, 电源完整性测试中的探头选择, 以及利用软件迅速查找电源完整性中隐藏的问题
如何精确评估低功耗边缘AI的电流和功耗特性?
摘要:以AI-IoT 为代表的边缘AI, 正在呈现爆发式的增长。 但在众多产品中, 低功耗往往是一项无法回避的硬指标。 这个专题将关注低功耗边缘AI芯片、功能模块的精确电流测试和功耗分析的不同手段, 比较他们的优缺点, 以及各自适应的应用场景
全新高性价比单路和多通道矢量信号产生方案
摘要:本次议题将为您深度解析单通道与多通道信号源的差异化选型策略,洞悉系列产品的核心优势, 包括1.多通道相位相参:通道间相位精准同步,适配相控阵测试、雷达系统研发等高精度应用场景。2.超低相位噪声:实现信号的高稳定性输出,保障微弱信号检测、射频通信测试的准确性卓越信号纯净度:有效抑制杂散与谐波干扰,满足射频器件标定、无线通信协议验证的严苛要求。3.高速切换速度:大幅缩短信号配置与切换耗时,提升自动化测试产线的整体效率
如何用便捷和经济的手段提取半导体的参数
摘要:半导体参数的测试和分析, 通常会利用非常昂贵的 B1500A 半导体参数测试和分析仪。但由于成本的压力,众多的研发工程师无法承担。该专题中将分享利用是德科技 B2900 源表,配合 EasyExpert 软件,实现部分 B1500A 的测试能力,帮助工程师以低成本快速验证其产品设计,加速测试进程,有效降低成本 。
AI供电系统 PDN 阻抗和环路增益的精确测试
摘要:在以 AI 为核心的智能产品供电系统中, 所需的供电变条件异常苛刻 --- 低至 0.6-0.8VDC 的电压,高达 100-200A 的电流。 这对电源完整性的精确测量提出严酷要求。 在这个专题中, 我们将探讨基于网络分析仪 E5061B 的电源完整性 PI 频域的精确测量和分析方法,从环路增益,PDN 阻抗,旁路电容一直到 LDO/PSRR, 给大家展示不同于常用示波器时域测量方法的独到之处。
参会须知
1. 报名条件
电子从业者工程师有限报名;对话题感兴趣的非专业人士报名后,我们将根据报名情况进行筛选通知
2. 名额设置
本次活动免费,座位有限请提早确认参会情况
3. 报名成功通知
报名成功后,我们将在活动开始前,以短信或邮件的形式给您发送邀请确认函编号,届时请注意查收


会议亮点:
1.
是德科技资深工程师 + 行业专家亲自授课,拆解技术难点、分享解决方案及经验
2.
现场观摩+实时演示
另有, 互动抽奖惊喜不断,参会即有机会收获专属福利
