NI测试测量技术研讨会武汉站：与大咖现场对话，解锁测试新视野

NI测试测量技术研讨会再次起航，以AI+测试为主题，走遍全国多个城市，与全国各地朋友相聚，共同探讨AI+测试的落地，共赢智能测试的未来。

活动时间

2026年5月26日（星期二）

13:30-17:00（12:30开始签到）

活动地点

武汉光谷凯悦酒店, 三楼沙龙1厅

（地址：湖北省武汉市洪山区珞喻路1077号）

码上报名

NI测试测量技术研讨会武汉站

• 分享最新AI+测试进展，深入探讨如何实现技术落地

• 技术专家面对面分享：最新测试技术成果，提高测试精度技巧，并为您解读各种疑难问题

• 多款全新软硬件产品发布，AI助手Nigel^™，全新PXI控制器/机箱/模块，全新DAQ产品，全新USRP产品

• 测试测量工程师、研发工程师

• 工程团队负责人，技术总监

• 院校及研究所研究人员

• LabVIEW爱好者，开发者

PART 5

实机展示

• • NI Nigel™ AI助手体验

  • 通过配置快速完成PXI自动化测试任（InstrumentStudio™软件展示）

  • 快速完成传感器配置与数据记录（FlexLogger™软件展示）

  • 大数据量射频信号高速录制回放系统

  • 高速ADC测试系统

  • 光电子应用测试方案

  • 通信数据高速流盘系统(X410+PXIe-7903)

  
  

  
  

码上报名

NI测试测量技术研讨会武汉站