把握AI+测试机遇!NI测试测量技术研讨会深圳站重磅开启

2025-11-24 16:01
二维码

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PART 1






研讨会基本信息






NI测试测量技术研讨会再次由深圳起航,以AI+测试为主题,走遍十个城市,与全国各地朋友相聚,共同探讨AI+测试的落地,共赢智能测试的未来。


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活动时间


2025年12月10日(星期三)

13:30-17:10(12点开始签到)


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活动地点


深圳威斯汀酒店 宴会厅1+2

(地址:深南大道9028-2号)


点击查看地图▼

深圳益田威斯汀酒店
广东省深圳市南山区深南大道9028-2号




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码上报名
NI测试测量技术研讨会深圳站





PART 2






为什么参会?






  • 分享最新AI+测试进展,深入探讨如何实现技术落地

  • 技术专家面对面分享:最新测试技术成果,提高测试精度技巧,并为您解读各种疑难问题

  • 多款全新软硬件产品发布,AI助手Nigel,全新PXI控制器/机箱/模块,全新DAQ产品,全新USRP产品


PART 3






谁适合参加?






  • 测试测量工程师、研发工程师

  • 工程团队负责人,技术总监

  • 院校及研究所研究人员

  • LabVIEW爱好者,开发者


PART 4






日程安排






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PART 5






实机展示






  • NI Nigel AI助手体验

  • 通过配置快速完成PXI自动化测试任务(InstrumentStudio软件展示)

  • 快速完成传感器配置与数据记录(FlexLogger软件展示)

  • 射频通信原型验证平台USRP更新

  • 全新数据采集产品(DAQ)更新

  • 24bit高精度模数转换芯片(ADC)芯片测试系统

  • 多通道、大电流电源管理芯片(PMIC)测试系统

  • 全新双通道矢量信号收发仪VST-5860



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