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NI携ADAS硬件在环测试系统亮相2018中国国际汽车测试展


作者:    时间:2018/10/11 18:47:05  来源:   

新闻发布 - 2018年9月25日 - NI (美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI) 是一家以软件为中心的平台供应商,今日参加了国内最大的整车和部件测试和验证技术与服务展会——2018中国国际汽车测试展(Auto Testing Exhibition)。本次展会,NI以“智能网联汽车提供完整的研发验证到产线测试解决方案“为主题,重点展示了汽车安全测试的ADAS_all_in_one的方案。


目前,汽车产业正朝着自动驾驶方向发展,而高级驾驶辅助系统(ADAS)是实现自动驾驶发展的重要前提。NI 的硬件在环测试系统可以提升ADAS硬件在环测试系统的安全性。展会上,NI的ADAS 硬件在环测试(HIL)系统展示了完整的针对智能驾驶系统的在环测试能力,实现多传感器融合的硬件在环,涵盖77Ghz雷达,摄像头,LTE-V,GNSS模拟,驾驶模拟器,录播和回放等测试能力。系统使用场景仿真软件(SCANeR studio/Carmaker/Prescan)产生设定的场景给到智能汽车上不同的传感器,通过屏幕或者数字注入方式给到摄像头,通过NI的车载雷达模拟系统给到毫米波雷达,通过RF射频模块给到V2X模块/传感器,不同传感器收集到的道路反馈数据给到电子控制单元(ECU),ECU综合各类传感数据做融合后进行决策,决策通过搭载有车辆动力学模型的PXI平台执行。

 

图1:ADAS硬件在环测试系统

 

同时,整个系统还配备了GNSS模拟器,用来模拟车辆驾驶在不同地域的情况,整个测试环节可进行记录以及回放,用于后续针对行为,对算法做进一步的详细分析。     


此外,NI的生态联盟(ADAS iiT)也参加了这次展会,包括使用innosimulation的驾驶模拟器,SCAneR Studio, Camera 测试方案, NI 合作伙伴 Konrad基于NI VRTS提供的雷达测试方案,NI 联盟合作伙伴也提供了基于NI的USRP针对V2X测试,以及NI的GNSS模拟可以进行数据记录回放功能。

图2:ADAS多传感器融合硬件在环

 

NI亚太区汽车市场经理贾青超表示:我们的硬件在环测试系统是基于平台化方法,具有良好的开放性和灵活性。这一基于平台的测试方法,由灵活的硬件,开放的软件以及强大的生态圈构成,可以有效应对快速变革的智能汽车测试。


这次展会,除ADAS多传感器融合硬件在环,NI还展出了业界领先的企业级产线、实验室设备及数据管理方案,智能汽车、新能源汽车三电系统、机电系统数据测试解决方案等。

 

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